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嵌入式测试:IAR单元测试示例

发表于:2017-01-09 作者:网络转载 来源: 点击数:

  嵌入式测试通常涉及硬件的模拟与控制,需要在单元测试用例中随意模拟和控制硬件行为,以及模拟中断对全局变量的修改,并解决死循环、超时等问题。使用Visual Unit 4,通过在测试用例中设置内部输入,可以随意模拟和控制硬件行为;利用测试用例的多次赋值功能、跳过底层函数等功能,可以轻松解决死循环、超时等问题。用Visual Unit 4做嵌入式单元测试特别舒服。
  这是Visual Unit 4.0 Beta2实现嵌入式测试的示例,产品代码为IAR项目。单元测试针对的是代码功能逻辑,嵌入式测试也一样。对于了解代码功能的人来说,测试功能逻辑不难,但可能碰到前述的各种问题,使单元测试过程受阻,因此,本示例并未对代码功能逻辑完成测试,只是说明嵌入式测试过程中可能遇到的问题及如何利用Visual Unit 4的特有功能解决这些问题。
  1、使用IAR模板新建工程,可以直接通过编译,但会产生main函数重定义错误,因为测试工程也有一个main函数。可在产品代码中对main函数做如下修改:

 

#ifndef _VUNIT int main() { ... } #endif

  2、函数SPI_RWData的第三个参数如果为NULL,会崩溃,但好几个函数调用SPI_RWData时都直接传递0,因此都会崩溃。应该先修改它的代码,对第三个参数判断空指针。示例中的产品代码已作了修改,在使用第三个参数前判断是否为空指针。在嵌入式测试过程中,如果某个底层函数执行时崩溃,通常应该先对该底层函数进行测试。
  3、函数Delayms会导致死循环,测试需要调用Delayms的函数时。嵌入式测试中,底层函数死循环是比较常见的。可将底层函数设为skit it跳过,或设置底层输入,方法是在左边代码窗口中,双击函数如Delayms,在弹出的窗口中,选中要设置底层输入的变量,并在表格中填数据,如果不需要设底层输入,则选中skit it。skit it是测试用例的一种特殊变量,其意义是直接跳过该函数。如果在某一用例中不跳过,需将其值设为-1。
  4、在嵌入式测试工作中,如果被测函数调用的底层函数崩溃,但底层函数是别人写的,可以通过对底层函数设置底层输入或skit it来避免崩溃。这一点与死循环类似。
  5、如下函数:

 

void Delay100us(WORD us) { TIM_Cmd(TIM2,DISABLE); TIM2 -> CNT = 0; TIM2 -> ARR = us * 100; TIM_Cmd(TIM2, ENABLE);///< 开启定时器 while(TIM_GetFlagStatus(TIM2,TIM_FLAG_Update) == RESET) {__NOP();} TIM_ClearFlag(TIM2,TIM_FLAG_Update); TIM_Cmd(TIM2, DISABLE);///< 关闭定时器 }

  红色代码可能造成死循环,这在嵌入式测试中也很常见,解决办法是使用多次赋值,让while中的条件先为真,以便执行循环,最后返回假,以便跳出循环。具体来说,可以这样处理:对TIM_GetFlagStatus设置底层输入,让它的return值为RESET和1,即在表格中填RESET;1,这叫多次赋值(分号隔开多个值),第一次调用会返回RESET,第二调用为返回1。这里,RESET的值为0。
  6、总结:用Visual Unit 4做嵌入式单元测试特别舒服,嵌入式代码在单元测试时经常会产生死循环之类的问题,并需要对硬件做各种控制,包括对中断改写全局变量的修改,这些,用Visual Unit 4都可以很轻松做到,通常只是点几下鼠标,在表格中填数据就可以了。
 

 

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