嵌入式测试通常涉及硬件的模拟与控制，需要在单元测试用例中随意模拟和控制硬件行为，以及模拟中断对全局变量的修改，并解决死循环、超时等问题。使用Visual Unit 4，通过在测试用例中设置内部输入，可以随意模拟和控制硬件行为；利用测试用例的多次赋值功能、跳过底层函数等功能，可以轻松解决死循环、超时等问题。用Visual Unit 4做嵌入式单元测试特别舒服。
这是Visual Unit 4.0 Beta2实现嵌入式测试的示例，产品代码为IAR项目。单元测试针对的是代码功能逻辑，嵌入式测试也一样。对于了解代码功能的人来说，测试功能逻辑不难，但可能碰到前述的各种问题，使单元测试过程受阻，因此，本示例并未对代码功能逻辑完成测试，只是说明嵌入式测试过程中可能遇到的问题及如何利用Visual Unit 4的特有功能解决这些问题。
1、使用IAR模板新建工程，可以直接通过编译，但会产生main函数重定义错误，因为测试工程也有一个main函数。可在产品代码中对main函数做如下修改：
| #ifndef _VUNIT int main() { ... } #endif |
2、函数SPI_RWData的第三个参数如果为NULL，会崩溃，但好几个函数调用SPI_RWData时都直接传递0，因此都会崩溃。应该先修改它的代码，对第三个参数判断空指针。示例中的产品代码已作了修改，在使用第三个参数前判断是否为空指针。在嵌入式测试过程中，如果某个底层函数执行时崩溃，通常应该先对该底层函数进行测试。
3、函数Delayms会导致死循环，测试需要调用Delayms的函数时。嵌入式测试中，底层函数死循环是比较常见的。可将底层函数设为skit it跳过，或设置底层输入，方法是在左边代码窗口中，双击函数如Delayms，在弹出的窗口中，选中要设置底层输入的变量，并在表格中填数据，如果不需要设底层输入，则选中skit it。skit it是测试用例的一种特殊变量，其意义是直接跳过该函数。如果在某一用例中不跳过，需将其值设为-1。
4、在嵌入式测试工作中，如果被测函数调用的底层函数崩溃，但底层函数是别人写的，可以通过对底层函数设置底层输入或skit it来避免崩溃。这一点与死循环类似。
5、如下函数：
| void Delay100us(WORD us) { TIM_Cmd(TIM2，DISABLE); TIM2 -> CNT = 0; TIM2 -> ARR = us * 100; TIM_Cmd(TIM2， ENABLE);///< 开启定时器 while(TIM_GetFlagStatus(TIM2，TIM_FLAG_Update) == RESET) {__NOP();} TIM_ClearFlag(TIM2，TIM_FLAG_Update); TIM_Cmd(TIM2， DISABLE);///< 关闭定时器 } |
红色代码可能造成死循环，这在嵌入式测试中也很常见，解决办法是使用多次赋值，让while中的条件先为真，以便执行循环，最后返回假，以便跳出循环。具体来说，可以这样处理：对TIM_GetFlagStatus设置底层输入，让它的return值为RESET和1，即在表格中填RESET;1，这叫多次赋值（分号隔开多个值），第一次调用会返回RESET，第二调用为返回1。这里，RESET的值为0。
6、总结：用Visual Unit 4做嵌入式单元测试特别舒服，嵌入式代码在单元测试时经常会产生死循环之类的问题，并需要对硬件做各种控制，包括对中断改写全局变量的修改，这些，用Visual Unit 4都可以很轻松做到，通常只是点几下鼠标，在表格中填数据就可以了。
